日本スペリア社　ICEP「優秀論文賞]受賞　鉛フリーはんだ「SN100C」の信頼性を学術的に解明

日本スペリア社（大阪府吹田市江坂町１―16―15、〓０６―６３８０―１１２１、西村哲郎社長）はこのほど、同社の鉛フリーはんだ「ＳＮ１００Ｃ」に関して、「ＩＣＥＰ２００９」（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ
Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ
ｏｎ
Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ
Ｐａｃｋａｇｉｎｇ
２００９）の「優秀論文賞」を受賞した。改めて、ＳＮ１００Ｃの信頼性が学術的に解明されたものとして注目される。

同社は、豪クイーンズランド大学（ＵＱ）と共同で鉛フリーはんだの「ニッケル効果」に関する研究を進め、その成果を昨年（09年）に京都国際会館で開催されたＩＣＥＰ２００９で発表。このほどその論文がＩＣＥＰの優秀論文賞を受賞したもの。

論文タイトルは「Ｎｉ添加Ｓｎベース鉛フリーはんだとＣｕ基板界面のＣｕ６Ｓｎ５金属間化合物の亀裂抑制」。同社西村社長と末永将一主任研究員、ＵＱの野北和宏准教授ほか３人の研究者の計６人の共著によるもので、ＳＮ１００Ｃの信頼性解明に繋がる内容。

ＩＣＥＰは、エレクトロニクス実装学会（ＪＩＥＰ）、電気電子学会（ＩＥＥＥ）、部品・パッケージング・製造技術ソサエティー（ＣＰＭＴ）で共催する電子実装会を代表する国際学会。

今回のエントリー論文は１７０だったが、同社とＵＱの該当論文が同賞リストの筆頭に挙げられていた。今回の受賞により、ＳＮ１００Ｃの信頼性が国際学会で学術的にも解明されたということで、同社では今後さらにＳＮ１００Ｃの普及拡大を図っていく。

同社は、今年６月２日～４日まで東京ビッグサイトで開催されたＪＰＣＡ
ＳｈｏｗのＮＰＩプレゼンテーションで発表した、第２世代完全ハロゲンフリーソルダペースト「ＳＮ１００Ｃ
Ｐ６０２Ｄ４」で、第６回ＪＰＣＡ賞（アワード）を受賞した。今回の同賞には33テーマの応募があり、同社はマイクロエレクトロニクスショー出展部門で受賞した。これで同社は、第３回（07年）、第５回（09年）と合わせて３回目の同賞受賞となり、同社の高い技術開発力が改めて評価されたと言えるだろう。