XTIA(光コム)、同軸計測で複雑形状の全数・全自動検査を実現。3次元レーザー測定の限界突破

 いまスマートファクトリー構築に向けて製造装置やロボットを使った製造と搬送の自動化が活発だが、次の段階へ進むには検査の自動化、全数検査は避けることができない。しかし全数検査は対象となるワークと認識する要素が複雑で多彩になるほどタクトタイムがかかって導入効果を出すのが難しくなる。 そんななかXTIA(クティア、旧社名:光コム)は、外観検査や寸法検査を高速で全自動検査ができる3次元レーザー測定技術を開発。既存の3次元レーザー測定技術では不可能だった自動車のエンジンブロックなど複雑形状のワークのインライン全数検査を実現。主要自動車メーカーに採用されるなど注目を集めている技術だ。 ■ノーベル賞受賞技術…

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NEC、少量の収集データで活用可能な機械学習技術を開発

〜学習効率の高いデータを収集し、推定精度を向上〜 NECは、機械学習技術で必要とされる大量のデータが得られない状況でも活用可能な、複数の機械学習技術を開発しました。今回開発した技術は、学習用のデータ量が十分に得られていない段階からでも機械学習技術の活用を可能とします。 (1)人のノウハウを取り入れて、学習効率の高いデータを能動的に収集して学習する技術 (2)収集したデータをもとに、実世界の事象の複数のシミュレーション結果の類似度に基づいてパラメータの修正を自動で繰り返し、正しいパラメータを推定する技術 (3)AIの分析結果に基づく意思決定時に、収集データを学習用と効果評価用に分割した複数パター…