日本エフ・エーシステム　表面形状を計測・検査　「3D画像検査装置」と「フィルム検査装置」を同時発売

オプテックス・エフエー（小國勇社長）の１００％子会社で、産業用画像機器の開発製造、輸出入販売、コンサルタントの日本エフ・エーシステム（横浜市港北区新横浜３―23―３、〓０４５―４７６―０８８０、小國社長）は、３Ｄ画像検査装置「３Ｄ―Ｅｙｅ
３５０００シリーズ」と、フィルム検査装置「Ｆｉｌｍ―Ｅｙｅ
３５０シリーズ」を発売した。

３Ｄ―Ｅｙｅ
３５０００シリーズは、３Ｄカメラとレーザ光源により、対象物の表面形状を超高速・高精度に計測・検査し、外観不良を検出するシステム。

レーザによる線光源が検査ワークの輪郭形状を高さデータとして取り込むことで、外観色調の影響を受けず表面の欠陥を定量化した数値で判定。高精度、かつ安定した外観検査が可能。３Ｄカメラにはオンチップ高速演算処理回路を内蔵し、最大３万５０００プロファイル／秒の超高速処理が可能である。

ＢＧＡ（Ｂａｌｌ
ｇｒｉｄ
ａｒｒａｙ）や、チップ部品の高さ、基板の反り、ボンディング量など電子部品の検査・計測用途、食品パッケージや錠剤の形状など食品・医薬品の外観検査用途、素材の外観検査用途などがある。

Ｆｉｌｍ―Ｅｙｅ
３５０シリーズは、独自の光学・照明技術により、フィルム送り速度３５０メートル／分の高速ラインで、径０・１ミリの異物が検出可能な透明・無地フィルム欠陥検査装置。均一な照明条件の実現で、欠陥検出の精度を向上するとともに、ラインセンサカメラを使用し濃淡ムラのない均一な画像が取得できる。また、専用ソフトウェアによりＰＣ上解析・分析・履歴が一元管理できる。

食品・医薬品関連の一般フィルム、ＦＰＤやリチウムイオン電池関連の高付加価値フィルム、光学フィルムなどのピンホールやコート抜けなどの穴欠陥や、異物・キズなどの凹凸欠陥、うねり・たわみなどの欠陥検知に対応する。

なお、両検査装置とも顧客の検査用途に合わせ、カスタム設計により最適なシステム構築を行っていく。今年度の国内販売目標は各10システム。