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「探傷検査」の検索結果4件

  • 2018年6月20日

OKIエンジニアリング、最先端デバイスの故障個所と原因をその場で特定する「お客様立会い故障解析サービス」を提供開始

高度な非破壊検査技術を活用し、短時間で解決 OKIグループの信頼性評価と環境保全の技術サービスを展開するOKIエンジニアリング(東京都練馬区)は、2018年6月21日より、微細・高密度実装・高積層デバイスなどの最先端デバイスの故障個所を、高度な非破壊 […]

  • 2016年3月9日

CCS 蛍光観察に適した照明 従来比3倍の放射照度

画像処理用LED照明大手のシーシーエス(各務嘉郎社長)は、画像処理検査用LED照明「UV2シリーズ」のラインアップを拡充し、販売を開始した。新製品はUV照射による蛍光観察検査向けの製品で、従来販売していたワイドタイプに加え3倍の放射照度を実現したナロ […]

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