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NEC 良品データの学習のみで不良品を検出するAIを製品化

日本電気(NEC)は、画像データを用いた検品業務の効率化などを実現するAI技術群「NEC the WISE」のひとつである、ディープラーニング技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics–RAPID機械学習」を強化し、5月8日から販売活動を開始した。

不良品を検出する検品業務にAIを導入する際、良品・不良品双方の画像データを1000件規模で事前学習する必要があるが、製造精度の高い日本の工場などでは、不良品データを大量に収集することが困難、という課題があった。

今回の機能強化では、1種類の画像データを学習させることで2種類の画像データを分類する「OneClass分類アルゴリズム」を導入。これにより、良品データのみで学習して異常箇所を検出するモデルを生成できるため、不良品データを入手しにくい製造業でもAIを活用した検品業務を実現する。

また、操作画面のインターフェースを刷新し、分析機能を集約。ナビゲーションによる画面操作で容易に分析できる。

さらに、テキストデータのマッチング分析において、従来はテキストとして取り扱っていた数字情報を、数字としての意味を保ったまま解析できるようになっている。

価格は「NEC Advanced Analytics–RAPID機械学習V2.2画像解析版」が375万円~(6月4日発売)、「同マッチング版」が375万円(5月21日発売)。販売目標は今後3年間で300システム。

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