日本電気（NEC）は、画像データを用いた検品業務の効率化などを実現するAI技術群「NEC the WISE」のひとつである、ディープラーニング技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics–RAPID機械学習」を強化し、5月8日から販売活動を開始した。
不良品を検出する検品業務にAIを導入する際､良品･不良品双方の画像データを1000件規模で事前学習する必要があるが、製造精度の高い日本の工場などでは、不良品データを大量に収集することが困難、という課題があった。
今回の機能強化では、1種類の画像データを学習させることで2種類の画像データを分類する「OneClass分類アルゴリズム」を導入。これにより、良品データのみで学習して異常箇所を検出するモデルを生成できるため、不良品データを入手しにくい製造業でもＡＩを活用した検品業務を実現する。
また、操作画面のインターフェースを刷新し、分析機能を集約。ナビゲーションによる画面操作で容易に分析できる。
さらに、テキストデータのマッチング分析において、従来はテキストとして取り扱っていた数字情報を、数字としての意味を保ったまま解析できるようになっている。
価格は「NEC Advanced Analytics–RAPID機械学習V2.2画像解析版」が375万円～（6月4日発売）、「同マッチング版」が375万円（5月21日発売）。販売目標は今後3年間で300システム。
オートメーション新聞は、1976年の発行開始以来、45年超にわたって製造業界で働く人々を応援してきたものづくり業界専門メディアです。工場や製造現場、生産設備におけるFAや自動化、ロボットや制御技術・製品のトピックスを中心に、IoTやスマートファクトリー、製造業DX等に関する情報を発信しています。新聞とPDF電子版は月3回の発行、WEBとTwitterは随時更新しています。
