コグネックス（東京都文京区本駒込２―28―８、TEL０３―５９７７―５４０９、島清史社長）は、新世代のウェハーＩＤリーダ「Ｉｎ―Ｓｉｇｈｔ１７４０」と、その付属ソフトウェア「Ｉｎ―Ｓｉｇｈｔ
Ｅｘｐｌｏｒｅｒ
Ｗａｆｅｒ
ＩＤ」のバージョン４・５・０＝写真＝の販売を開始した。
Ｉｎ―Ｓｉｇｈｔ１７４０は、新しい自動チューニング機能の搭載により、最も読み取りが難しいマークでも、エラーを発生させないように自動的に読み取り率を大幅に高めることで、処理能力を２倍に強化し、読み取り時間も40％短縮できる。
また、明るい画像を生成することができる実績ある内蔵照明システムや、各種ウェハーのＩＤマークでもハイコントラストの暗視野画像を提供する外部ＬＥＤを内蔵するなど、クラス最高の照明システムを実現している。
さらに、新しいタイプのウェハープロセス処理が開発されたことにより、外部照明拡張ポートから電源を供給する特殊照明を使って、新しい画像要件に対応するための拡張も可能。
しかも、赤外照明を備えたモデルもラインナップし、きわめて特殊なプロセス処理ウェハーにも対応できる。
一方、付属ソフトウェアは読み取りエラーが発生しやすいような悪条件下であっても、自動画像改善フィルタの働きにより、オペレータの介入が不要となっており、最初にＴ７コードを読み取ることでＳＥＭＩ
Ｍ１・１５マークの読み取り能力が向上している。ＯＣＲマークは、Ｔ７コードが処理不能なほど劣化している場合のバックアップとして使用できる。
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