非接触式三次元形状測定– tag –

XTIAは、ニコンとJUKI、双日、INCJと光コム技術とそれをベースとしたインライン全数検査対応の非接触式三次元形状測定技術について業務提携を締結した。同時に各社を引受先とした第三者割当増資を実施して総額17億円を調達し、光コム技術の産業応用を加速...