高輝度LEDテストシステム横河、サンエスと共同開発

横河電機は、サンエス(広島県福山市、佐藤卓己社長)と共同で、照明用LEDチップ4個の光学特性と電気特性を同時に測定・検査できる「高輝度LEDテストシステム」を開発、10月1日から発売する。価格は1650万円から。2012年度30台、13年度100台の販売を予定。

新システムは、LEDチップを4個同時に検査することができるため、一つずつ検査する場合に比べ検査時間を60%短縮でき、検査コストの大幅な削減に貢献する。従来から複数のLEDを同時に検査したいというユーザーニーズがあったが、LEDの特性上、複数個を同時に検査することは難しいといわれていた。

今回、横河が高速で光学特性を測定する分光計「SP1000」と、電気特性の測定と駆動電流やテスト信号を出力するソースメジャーユニット「FS―18V/50V」を、サンエスが検査対象のLEDチップに電流を流すためにウェハに針を当てるための装置(プローバ)を開発したことで可能となった。

LEDへの駆動電流の入力タイミングと合わせて光学特性を測定することで、測定を短時間に終わらせ、駆動電流による発熱を最小限に抑えられる。

また、周辺の温度変化の影響を受けにくい設計により、再現性の高い安定した検査結果を得られる。

1台に、自動で検査する制御機能や、テスト実行指示を与えるHMI機能を備えたPCもシステムが組み込まれており、測定・検査のすべてに対応できる。

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