高輝度LEDテストシステム横河、サンエスと共同開発

2012年9月26日

横河電機は、サンエス(広島県福山市、佐藤卓己社長)と共同で、照明用LEDチップ4個の光学特性と電気特性を同時に測定・検査できる「高輝度LEDテストシステム」を開発、10月1日から発売する。価格は1650万円から。2012年度30台、13年度100台の販売を予定。 新システムは、LEDチップを4個同時に検査することができるため、一つずつ検査する場合に比べ検査時間を60%短縮でき、検査コストの大幅な削減に貢献する。従来から複数のLEDを同時に検査したいというユーザーニーズがあったが、LEDの特性上、複数個を同時に検査することは難しいといわれていた。 今回、横河が高速で光学特性を測定する分光計「SP…