日本エフ・エーシステム短時間で3D形状計測卓上型計測装置部品外観検査に最適

2012年3月21日

オプテックス・エフエー(小國勇社長)の子会社で画像機器メーカーの日本エフ・エーシステム(東京都品川区西五反田4―32―1、TEL03―5740―7521、小國勇社長)は、短時間で3D形状計測が可能な卓上型3D形状計測装置「3D―Eye スキャナー計測検査モデル」を発売した。価格は700万円から。今年度の国内販売目標は30台。 同社は、光切断法による幅の広いレーザ光源で、ワークを一括スキャンする測定方式を採用し、短時間で3D形状計測を行う簡易型卓上計測装置3D―Eyeスキャナーを昨年発売した。 今回発売した計測検査モデルは、ワークの大きさ(高さ・体積など)を測る従来の計測装置に、検査対象専用のソ…