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「米国国立標準技術研究所」の検索結果2件

  • 2022年1月27日

キヤノン、顔認証技術が米国国立標準技術研究所の顔認証精度評価で日本1位・世界トップクラスを達成

キヤノンは、米国国立標準技術研究所が主催する顔認証ベンチマークテストで、日本1位、世界トップクラスの精度を達成した。 キヤノンが開発中の顔認証技術は、本人の撮影画像1枚と他人を含む複数の画像を照合する「1:N照合」のうち、人物検索の精度を判定するIn […]

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