- 2022年1月27日
キヤノン、顔認証技術が米国国立標準技術研究所の顔認証精度評価で日本1位・世界トップクラスを達成
キヤノンは、米国国立標準技術研究所が主催する顔認証ベンチマークテストで、日本1位、世界トップクラスの精度を達成した。 キヤノンが開発中の顔認証技術は、本人の撮影画像1枚と他人を含む複数の画像を照合する「1:N照合」のうち、人物検索の精度を判定するIn […]
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「米国国立標準技術研究所」の検索結果2件
米国国立標準技術研究所
- 2019年10月4日
NEC、顔認証技術で1位を獲得。1200万人分の認証エラー率0.5％
NECは、世界的権威のある米国国立標準技術研究所（NIST、注1）が実施した最新の顔認証技術のベンチマークテスト（FRVT2018、注2）において、1,200万人分の静止画の認証エラー率0.5%という、他社を大きく引き離す第1位の性能評価を獲得しまし […]
