分光干渉法 の検索結果

　大塚電子（大阪府枚方市）は、独自技術により、不透明・粗面・変形しやすいシート状の材料の厚みを非接触で測定できる計測機器「非接触光学厚み計」を開発、8月31日から発売した。 近年、スマートフォン、電気自動車、衛生用マスクなど、身近な製品の材料は、より薄く、より高機能であることが求められており、材料メーカーには厳しい品質管理が要求されている。一方で、不織布やゲルシート、樹脂などの複数層あるいは不透明な材料を非接触で測定することは困難であり、接触式でも測定が難しい材料は数多く存在し、材料メーカーの課題となっている。 新製品は「置くだけ」「簡単操作」「高速」をコンセプトに開発され、独自の分光干渉法に…

浜松ホトニクスは４月１日から、ＰＬＣ接続に対応し、小型で組み込みに適した膜厚計の新製品「オプティカルナノゲージＣ１３０２７」＝写真＝を、フラットパネルディスプレイや半導体の塗布、薄膜成膜などの製造装置や検査メーカ向けに発売する。 同製品は、分光干渉法を用いた非接触の膜厚測定装置。従来製品をアナログ出力対応にし、ＰＬＣ接続を容易にした。装置内の分光器を小型化し、設置面積を従来品に比べて約３０％削減。製造装置や検査装置にインラインモニターとして組み込みが容易になった。 さらに、色計測の機能も追加し、膜厚測定と同時にフィルムやＦＰＤの色むらの有無の確認も可能になった。解析アルゴリズムも見直し、従来品…