オムロン、新AI機能搭載の画像処理システム「FHシリーズ」発売 欠陥検出時の過検出を防ぎ、モデル構築も自動化

オムロンは、新AI機能を搭載した画像処理システム「FHシリーズ」を発売した。これまでの欠陥検査で諦めていた課題を、誰でも簡単に解決できる。
欠陥検査では、「形状・色のばらつき」「複雑な背景」「光沢のばらつき」が過検出の3大原因であるとされ、同製品は「新AI欠陥検出アルゴリズム」の搭載によりこれらを解消。形状と色のばらつきには反応せず、傷と汚れのみを検出できるのに加え、溶接跡には反応せず、クラックのみを検出したり、光沢のばらつきには反応せず、欠けのみを検出可能。
また、AI導入のボトルネックとなっていたモデル構築を自動化する「新自動学習AI」も搭載。AIの検出性能を引き出すための学習と結果確認の繰り返し作業を自動化し、最適な画像を選択して学習するので、AIの専門知識がなくても、誰でも、最適なAIモデルを構築することができる。これにより、初期設定だけでなく、品種追加のたびに必要となるAIモデルの作成時間を大幅に削減。過検出がゼロになるように自動調整されるため、少ないサンプル画像でもすぐにトライアルを開始できる。
FHシリーズのコントローラにAI欠陥学習検査用ライセンスを追加するだけで利用でき、製造現場に適したシンプルなシステムで使うことができる。一般的なAIツールで起こりがちな「AIを導入したのに、画像検査装置のメンテナンスコストは増加してしまった」という課題を解消できる。

https://www.fa.omron.co.jp/products/family/3210/feature.html