エフ・エー・テクノ、11/5WEBセミナー「検査の限界を突破！ 新AI機能で欠陥検査に革新を」
エフ・エー・テクノは、11月5日にWEBセミナー『検査の限界を突破！新AI機能で欠陥検査に革新を』を開催する。セミナーは、AI画像検査を導入済みだが使いこなせていない、ルールベースでは実現できなかった欠陥検査を行いたい、メンテナンスコストを抑えたい、といった課題を持つ企業を対象とし、オムロン製の画像処理システム「FHシリーズ」に搭載された新AI機能を紹介。過検出や導入の手間といったAI導入でありがちな課題を解消し、これまであきらめていた欠陥検査を誰でも簡単に実現する方法を解説する。
